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近日,研究院地质资源与环境研究所“纳米级测量装置”获批实用新型专利(专利号:202122530188.9),这也是地环所两年来获批的第三项实用新型专利。
此项发明通过齿轮组合装置和机械放大原理,对传统的螺旋测微器进行改进,有效地提高了测量精度,理论上可达纳米级。这为研究院在“地表环境研究和地质灾害预防”方向研究提供了重要技术支撑。